分析电源芯片的测试数据，可在数据洞察界面，用多类型图表展示数据，帮助分析、评估其性能。 ATECLOUD测试平台测试电源管理芯片性能，可以满足基本项目测试，快速分析产品性能，帮助电源芯片的优化提升。 该系统支持测试数据以wr、exce格式导出，可自定义报告模板。
在测试之前，需要将被测电源芯片、测试仪器、ATEBOX与测试PC正确连接。
其内含的数据洞察功能可以以多种类型的图表直观展示测试数据，便于观察数据变化，为电源芯片的性能分析提供数据支持。
登录ATECLOUD测试平台，进入“方案运行”，选择已经创建好的测试方案，点击“运行”开始测试。 系统通过ATEBOX程控仪器，并且会按照已经创建好的方案流程开始测试。 .测试过程中，系统会采集测试仪器所测的数据，并将数据、波形图实时展示在系统的测试面板中。 测试结束后，系统会以Pass、Fai指标反馈测试结果，自动判别产品是否合格。 .测试结束后，在记录报告中查看测试详情，选择需要导出的数据和报告模板，导出测试报告。
